Úplné zobrazení záznamu

Toto je statický export z katalogu ze dne 13.07.2024. Zobrazit aktuální podobu v katalogu.

Bibliografická citace

.
0 (hodnocen0 x )
BK
1. vyd.
Praha : SNTL - Nakladatelství technické literatury, 1976
144 s.

objednat
000018610
1. Úvod (Robert Zedník) ...9 // a) Účel obvodů velké integrace a jejich použití ...10 // b) Problémy spojené se vznikem integrovaných celků ...11 // c) Slovník základních pojmů a definic ...12 // I. Struktura a vytváření obvodů velké integrace (Ing. Jan Křivohlávek, Ing. Vladimír Šťastný, Ing. Marcel Jiřina, CSc.) 15 // 2. Bipolámí technologie ...15 // 3. Unipolámí technologie ...20 // a) Základní pojmy ...20 // b) Nejdůležitější technologické struktury unipolárních obvodů .. 21 // 4. Elektrická schémata obvodů LSI ...23 // a) Bipolární obvody ...23 // b) Unipolámí obvody ...24 // c) Využití paměťových vlastností kapacit sdružených s hradlem . 25 // d) Realizace statických (synchronních) obvodů ...26 // e) Aktivní a pasivní zdvih logických stupňů ...28 // f) Logické členy s dynamickým aktivním zdvihem ...29 // 5. Elektrická schémata buněk pro paměti RAM ...31 // 6. Hybridní obvody ...32 // a) Technické výhody hybridních obvodů ...33 // b) Struktura hybridních obvodů ...34 // c) Propojení a pouzdření hybridních obvodů ...36 // d) Nové aspekty použití hybridních obvodů ...37 // 7. Návrh obvodů velké integrace ...38 // a) Návrh funkčního bloku ...39 // b) Kreslení a návrh masek pro monolitické obvody LSI ...39 // c) Kreslení a návrh masek pro hybridní obvody LSI ...41 // d) Návrh postupu zkoušení ...42 // H. Obvody střední a velké integrace a jejich použití (Ing. Eduard Kottek, Ing. Vladimír Šťastný) ...45 // 8. Základní systémové vlastnosti obvodů střední a velké integrace .. 45 // 9. Standardní a zákaznické obvody ...49 // a) Standardní obvody ...50 // b) Obvody s možností modifikace ...51 // c) Zákaznické obvody ...51 // 10. Základní druhy standardních obvodů ...52 // a) Logické obvody ...52 // b) Obvody pro paměti ...56 //
c) Obvody pro vstup a výstup dat ...63 // 511. Obvody modifikovatelné podle požadavků zákazníka ...65 // a) Registry s úpravou délky ...66 // b) Permanentní paměti ...66 // c) Programovatelná logická pole ...67 // d) Mikromatice ...68 // e) Obvody vytvářené sesazováním masek ...69 // f) Způsoby modifikace ...69 // 12. Příklady celků řešených zákaznickou technologií ...70 // a) Obvody pro kalkulační stroje ...71 // b) Analogově číslicové (A/D) převodníky pro číslicová laboratorní // a dílenská měřidla ...71 // c) Obvody pro minipočítače a mikroprocesory ...71 // d) Obvody pro komerční výpočetní systémy ...71 // e) Volící obvody pro telefonní přístroje ...72 // 13. Příklady aplikace obvodů vyšší integrace ...72 // a) Rychlá aritmetická jednotka ...72 // b) Rychlá zápisníková paměť ...74 // c) Paměť větší kapacity s použitím dynamických obvodů RAM ...76 // III. Vliv obvodů velké integrace na návrh zařízení (Ing. Marcel Jiřina, CSc., Ing. Jan Křivohlávek, Ing. Zdeněk Kubíček) 80 // 14. Spolehlivost ...80 // a) Spolehlivostní program ...80 // b) Zajišťování kvality obvodů LSI ...81 // c) Vyhodnocování a předpověd spolehlivosti ...82 // 15. Vliv velké integrace (LSI) na cenu a vztah mezi technickým (hardware) a programovým (software) vybavením nejen u počítačů ...84 // 16. Propojování a sestavování obvodů velké integrace do větších sestav 87 // a) Základní hlediska pro řešení rozvodu ...87 // b) Odrazy na vedení ...88 // c) Volba vlnové impedance Z0 pro vf spoje v zařízení ...89 // d) Vzájemné parazitní vazby mezi vf vedeními a průmyslové rušení 89 // e) Používané druhy vf vedení ...91 // f) Způsoby rozvodu impulsů v zařízení ...91 // g) Technologie propojování obvodů LSI ...92 //
IV. Měření a zkoušení obvodů velké integrace (Ing. Karel Dykasť) ...96 // 17. Úvod ...96 // 18. Požadavky na funkce zkoušečů ...97 // 19. Složení automatického měřiče ...99 // 20. Režimy zkušebních zařízení ...101 // a) Test do chyby ...101 // b) Test se záznamem výsledků ...101 // c) Zastavování měření podle programu ...101 // d) Krok ...101 // e) Opakování kroku ...101 // f) Opakování bloku kroků ...102 // g) Hledání kroku ...102 // h) Ruční řízení ...102 // i) Lokalizace poruchy pomocí počítače ...102 // 21. Technické řešení testovacího zařízení ...102 // a)_Jednoduchý příklad měřiče stejnosměrných parametrů ...103 // 22. Způsoby řešení zkoušečů logické funkce ...104 // a) Požadavky na zkoušeč logické funkce ...104 // b) Zadávání vstupních signálů při kontrole logické funkce ...105 // c) Řešení generátoru éasových zpoždění ...108 // d) Kontrola odezev zkoušeného zařízení ...109 // 23. Připojovací jednotka ...111 // 24. Blokové schéma sestavy zkoušeče obvodů LSI ...113 // a) Stavebnice dílů měřiče ...113 // V. Přehled některých obvodů vyšší integrace (Robert Zedník, Ing. Eduard Kottek, Ing. Vladimír Slastný) ...117 // VI. Dodatek: Zásady kreslení značek logických členů a obvodů (Ing. Eduard Kottek) ...133 // Rejstřík ...141
(OCoLC)42088589
cnb000471673

Zvolte formát: Standardní formát Katalogizační záznam Zkrácený záznam S textovými návěštími S kódy polí MARC