.

0 (hodnocen0 x )

BK

Vyd. 2.

Praha : Vydavatelství ČVUT, 1998

153 s. : il.

ISBN 80-01-01846-6 (brož.)

Obsahuje ilustrace, předmluvu, úvod

Bibliografie: s. 152-153

Diagnostika technická - učebnice vysokošk.

Spolehlivost - systémy - učebnice vysokošk.

000022297

Obsah // Předmluva k druhému vydání 2 // 1 Úvod do diagnostiky číslicových obvodů 7 // 1.1 Vznik technické diagnostiky 7 // 1.2 Základní pojmy 7 // 1.3 Diagnostické testy 8 // 1.4 Formy diagnostiky 9 // 1.4.1 Periodická diagnostika 10 // 1.4.2 Průběžná diagnostika 10 // 1.4.3 Ekonomika testování 11 // 1.5 Poruchy v číslicových obvodech 11 // 1.5.1 Poruchy typu t 12 // 1.5.2 Zkrat mezi signálními vodiči 13 // 1.5.3 Poruchy obvodů CMOS 13 // 1.5.4 . Poruchy programovatelných logických polí 13 // 1.5.5 Nestálé poruchy 14 // 1.5.6 Typické zdroje poruch 14 // 1.6 Generování testů 15 // 2 Generování strukturních testů 16 // 2.1 Zcitlivění cesty 16 // 2.1.1 Princip citlivé cesty 16 // 2.1.2 Generování jednoho kroku testu 16 // 2.1.3 Podmínky úplnosti testu 18 // 2.1.4 Testování redundantních obvodů 19 // 2.2 D-algoritmus 20 // 2.2.1 Singulární pokrytí logického členu 21 // 2.2.2 Přenosová D-krychle 21 // 2.2.3 Primitivní D-krychle poruchy 22 // 2.2.4 Šíření D 23 // 2.2.5 Odvození jednoho kroku testu 23 // 2.2.6 Strategie šíření D 26 // 2.3 Algoritmy PODEM a FAN 26 // 2.3.1 Nejdůležitější heuristiky algoritmu PODEM 26 // 2.3.2 Nejdůležitější heuristiky algoritmu FAN 27 // 3 Funkční testy 27 // 3.1 Generování testů pomocí boolovské diference 27 // 3.1.1 Odvození boolovské diference z mapy 28 // 3.1.2 Použití

boolovské diference 29 // 3.1.3 Algebraický výpočet boolovské diference 29 // 3.1.4 Detekce poruch na vnitřních vodičích obvodu 31 // 3.1.5 Generování úplných testů 31 // 3.2 Použití tabulek úplných testů 32 // 3.2.1 Úplné testy modulů 32 // 3.2.2 Zřetězení úplných testů 32 // 3.2.3 Problémy použití tabulek úplných testů 34 // 3.3 Náhodné a pseudonáhodné testy 36 // 4 . Testování sekvenčních obvodů 37 // 4.1 Identifikační metody 38 // 4.2 Generování testů pro obvody popsané jazykem vyšší úrovně 39 // 4.2.1 Vlastnosti jazyků úrovně RT 39 // 4.2.2 Reprezentace poruch na úrovni RT 40 // 4.3 Strukturní metody 40 // 5 Automatizace generování testů 42 // 5.1 Interakční systémy 43 // 5.2 Systémy AGT 43 // 5.3 Kontrola testů 45 // 5.3.1 Prováděné kontroly 45 // 5.3.2 Formy simulace 45 // 3 // 5.3.3 Vytváření modelu testované jednotky 46 // 5.3.5 Technika simulace poruch 48 // 5.4 Minimalizace testů 49 // 5.4.1 Tabulka poruch 50 // 5.4.2 Minimalizace detekčních testů 51 // 6 Komprese diagnostických dat 53 // 6.1 Kompresní metody založené na čítání událostí 53 // 6.2 Příznaková analýza 54 // 6.2.1 Princip příznakové analýzy 54 // 6.2.2 Příznakový analyzátor 56 // 6.2.3 Měření pomocí příznakového analyzátoru 56 // 6.2.4 Použití v mikroprocesorových systémech 58 // 6.3 Slovníky poruch 59

// 6.3.1 Koincidenční slovník 59 // 6.3.2 Slovníky s nižším rozlišením 60 // 7 .Návrh pro snadnou diagnostiku 61 // 7.1 Vývoj metod návrhu pro snadnou diagnostiku 61 // 7.2 Strukturovaný návrh 62 // 7.2.1 Sériové metody 63 // 7.2.2 Metody s paralelním přístupem 65 // 7.3 Zápis do rozhraní 66 // 7.4 Heuristické metody návrhu 67 // 7.4.1 Členění testované jednotky 68 // 7.4.2 Výběr snadno testovatelných součástek a zapojení 68 // 7.4.3 Použití testovacích bodů 68 // 7.4.4 Snadná inicializace paměťových obvodů 69 // 7.4.5 Vyloučení redundance 70 // 7.4.6 Vyloučení monostabilních obvodů 71 // 7.4.7 Náhrada asynchronních obvodů synchronními 71 // 7.4.8 Zajištění dostupnosti složitých součástek 71 // 7.4.9 Izolace generátorů hodin a zdrojů napájení 72 // 7.4.10 Zpřísnění pravidel logického a technologického návrhu 72 // 8 Vestavěné diagnostické prostředky 72 // 8.1 Diagnostické testy zapsané do paměti 73 // 8.1.1 Diagnostický systém počítače 74 // 8.1.2 Systémové testy mikropočítačů 75 // 8.2 Autonomní testy generované v reálném čase 75 // 8.2.1 Použití lineárních zpětnovazebních posuvných registrů 76 // 8.2.2 Použití registrů BILBO 77 // 8.2.3 Generátor testů HILDO 79 // 8.3 Generování pseudotriviálních testů 79 // 8.3.1 Strukturní pseudotriviální testy 80 // 8.3.2 Univerzální pseudotriviální

testy 81 // 9 Zabezpečení proti poruchám 82 // 9.1 Bezpečnost systému 82 // 9.2 Obvody bezpečné proti poruchám 82 // 9.2.1 Zdvojení 83 // 9.2.2 Kontrola inverzní funkcí 84 // 9.2.3 Dvojdrátová logika 84 // 9.2.4 Použití detekčního kódu 85 // 9.2.5 Kontrola platnosti kódu výstupů 86 // 9.3 Úplně samočinně kontrolované obvody 86 // 9.3.1 Princip úplné samočinné kontroly 86 // 9.3.2 Hlídače parity 87 // 9.3.3 Hlídače kódu k z 2k 88 // 9.4 Ostatní metody zabezpečení 89 // 9.4.1 Kontrolní výpočet 89 // 9.4.2 Hlídací časovač 89 // 10 Testování obvodů LSI a VLSI 90 // 4 // 10.1 Požadavky kladené na testy integrovaných obvodů 90 // 10.2 Testování mikroprocesorů 90 // 10.2.1 Výrobní testy 90 // 10.2.2 Uživatelské testy 91 // 10.3 Testování pamětí 93 // 10.3.1 Poruchy pamětí RAM 93 // 10.3.2 Vzorky pro testování pamětí RAM 94 // 10.3.3 Parametrické testy 96 // 10.3.4 Testování permanentních pamětí 97 // 11 Zkoušeče 98 // 11.1 Nejdůležitější funkční bloky zkoušečů 98 // 11.2 Zkoušeče integrovaných obvodů 100 // 11.3 Zkoušeče neosazených desek a kabeláže 101 // 11.4 Zkoušeče osazených desek 102 // 11.4.1 Konektorové zkoušeče 102 // 11.4.2 Použití řízené sondy 103 // 11.4.3 Vnitroobvodové zkoušeče 104 // 11.5 . Jazyky pro zápis testů 106 // 12 .Úvod do studia spolehlivosti 106 // 12.1

Základní pojmy 106 // 12.2 Ukazatele spolehlivosti neobnovovaných objektů 108 // 12.3 Ukazatele spolehlivosti obnovovaných objektů 110 // 12.4 Hodnoty ukazatelů spolehlivosti 112 // 13 Hodnocení spolehlivosti číslicových systémů 113 // 13.1S polehlivostní modely 113 // 13.2 Hodnocení spolehlivosti systémů s nezávislými prvky 115 // 13.2.1 Sériový model 115 // 13.2.2 Paralelní model 116 // 13.2.3 Kombinované modely 117 // 13.3 Markovské spolehlivostní modely 118 // 13.3.1 Markovské náhodné procesy 119 // 13.3.2 Markovské modely s absorpčními stavy 121 // 13.3.3 Markovské modely bez absorpčních stavů 123 // 14 Metody zálohování systémů 126 // 14.1 Klasifikace forem zálohy 126 // 14.1.1 Použité prostředky 126 // 14.1.2 Stupeň využití zálohy v čase 127 // 14.1.3 Úroveň využití zálohy 127 // 14.1.4 Vztah záložního a zálohovaného prvku 128 // 14.1.5 Funkce zálohy 128 // 14.2 Statická záloha 129 // 14.2.1 Úroveň součástek 129 // 14.2.2 Systém TMR 130 // 14.2.3 Systém NMR 132 // 14.3 Dynamická záloha 134 // 14.3.1 Režimy činnosti dynamické zálohy 134 // 14.3.2 Duplexní systém 137 // 14.3.3 Biduplexní systém 138 // 14.3.4 Záloha typu “M z N” 138 // 14.4 Hybridní záloha 139 // 15 Metody řízení spolehlivosti 140 // 15.1 Předcházení poruchám 141 // 15.2 Odolnost proti poruchám 142 // 15.3 Oblasti využití systémů odolných

proti poruchám 144 // 15.4 Rysy odolnosti proti poruchám v univerzálních počítačích 145 // 15.4.1 Použití samoopravného kódu v hlavní paměti 145 // 15.4.2 Opakování pokusu 146 // 15.5 Příklady architektury systémů odolných proti poruchám 146 // 15.5.1 August Systems série 300 147 // 5 // 15.5.2 Systém Tandem NonStop 148 // 15.6 Využití odolnosti proti poruchám v obvodech VLSI 149 // 15.6.1 Paměťové čipy 149 // 15.6.2 Rekonfigurovatelné procesorové čipy 150 // Literatura 152 // 6