.

0 (hodnocen0 x )

BK

Praha : SNTL - Nakladatelství technické literatury, 1977

485 s.

Pojednává o laboratorní technice elektronických měření, o stínění měřicích obvodů, rezistorech, cívkách a kondenzátorech, lineárních čtyřpólech v měřicí technice a o měřicích zdrojích elektrické energie. Zabývá se měřením proudu a výkonu při vyšších kmitočtech, měřením napětí, fázového posunu, modulace, měřicími metodami aktivních polovodičových prvků, číslicovou měřicí technikou aj..

000026549

Použité značky 10 // 1. LABORATORNÍ TECHNIKA (Doc. Ing. Michal Horevaj, CsC.) 15 // 1.1. Obecná problematika měření 15 // 1.2. Základní teorie měření 16 // 1.2.1. Analýza chyb v procesu měření 17 // 1.2.2. Náhodný charakter chyb 20 // 1.2.3. Statistické vyhodnocení výsledků 21 // 1.2.4. Minimální počet měření 25 // 1.3. Základní měřicí metody 26 // 1.3.1. Metoda přímých měření 26 // 1.3.2. Kompenzační metoda 28 // 1.3.3. Substituční metoda 30 // 1.3.4. Metoda postupného omezování 31 // 1.4. Zpracování výsledků měření 33 // 1.4.1. Grafické zpracování výsledků 34 // 1.4.2. Početní zpracování výsledků 35 // 1.5. Elektronické měřicí přístroje a jejich vlastnosti 36 // 1.6. Souvislosti mezi měřicím přístrojem a měřeným objektem 38 // 2. STÍNĚNÍ MĚŘICÍCH OBVODŮ (Ing. Eduard Klabačka, CSc.) 44 // 2.1. Účel stínění 44 // 2.2. Základní principy 45 // 2.3. Stínění polí časově neproměnných a kvazistacionárních 47 // 2.4. Stínění kvazistacionárního magnetického pole vodivým prostředím 51 // 2.5. Stínění elektrických a magnetických polí mřížkami 55 // 2.6. Stínění nestacionárního elektromagnetického pole 57 // 2.7. Stínění přístrojů a součástek 59 // 2.8. Stínění laboratorních prostorů 62 // 3. REZISTORY, CÍVKY A KONDENZÁTORY V MĚŘICÍCH OBVODECH (Ing. Eduard Klabačka, CSc.) 66 // 3.1. Požadavky na prvky měřicích obvodů 66 // 3.2. Fiktivní parametry. Náhradní obvod 66 // 3.3. Rezistor a jeho náhradní obvod 68 // 3.4. Vykompenzování rezistoru 74 // 3.5. Rezistory pro elektronické měřicí obvody 75 // 3.6. Použití vrstvových rezistorů 79 // 5 3.7. Cívka a její náhradní obvod 81 // 3.8. Cívky pro měřicí obvody 86 // 3.9. Kondenzátor a jeho náhradní obvod 89 // 3.10. Kondenzátory pro měřicí obvody 92 //

4. LINEÁRNÍ ČTYŘPÓLY V MĚŘICÍ TECHNICE (Prof. Ing. Josef Eichler, CSc.) 95 // 4.1. ÚVOD 95 // 4.1.1. Příčkové články 96 // 4.1.2. Křížové články 96 // 4.1.3. Článek tvaru přemostěné T 98 // 4.1.4. Článek tvaru dvojité T 99 // 4.1.5. Rozptylové parametry čtyřpólu 99 // 4.2. Použití čtyřpólů v měřicí technice 101 // 4.2.1. Impedanční transformátory 102 // 4.2.2. Útlumové články 107 // 4.2.3. Fázovací články 110 // 4.2.4. Filtry, selektivní obvody a transformátory v měřicí technice 113 // 4.2.5. Zpožďovací články (linky) 126 // 4.2.6. Posouvače fáze kombinované s aktivními prvky 128 // 4.3. Obvody s rozloženými parametry 130 // 4.3.1. Vedení elektromagnetické vlny 130 // 4.3.2. Odbočnice na vedeních 133 // 4.3.3. Půlvlrmé a čtvrtvlnné vedení . 133 // 4.3.4. Přechod nesouměrného vedení proti zemi na souměrné 133 // 4.3.5. Odbočnice a směrové odbočnice 134 // 4.3.6. Zakončovací odpory, zeslabovače a posouvače fáze 135 // 4.3.7. Nereciproční obvody s ferity 136 // 5. MĚŘICÍ ZDROJE ELEKTRICKÉ ENERGIE (Prof. Ing. Josef // Eichler, CSc.) 137 // 5.1. Zdroje proudu a napětí 138 // 5.1.1. Nestabilizované napájecí zdroje 139 // 5.1.2. Stabilizované napájecí zdroje 139 // 5.2. Tónové generátory 145 // 5.2.1. Elektromechanické generátory 146 // 5.2.2. Elektronkové a tranzistorové tónové generátory se zpětnou vazbou 147 // 5.3. Videofrekvenční generátory 150 // 5.4. Vysokofrekvenční generátory 151 // 5.4.1. Vysokofrekvenční generátory s amplitudovou modulací 152 // 5.4.2. Vysokofrekvenční generátory s amplitudovou a kmitočtovou modulaci 152 // 5.4.3. Generátory sinusového signálu s kmitočtovým rozmítáním (voblery) 155 // 5.5. Generátory obdélníkových kmitů 156 // 5.6. Impulsové generátory 157 // 5.7. Šumové generátory 160 //

5.8. Generátory sinusových signálů jako zdroje přesného kmitočtu 161 // 6. MĚŘICÍ OSCILOSKOPY (Doc. Ing. Miroslav Moravec, CSc.) 164 // 6.1. Základní zapojení osciloskopu 165 // 6.2. Synchroskop 170 // 6 6.3. Vzorkovací osciloskop 172 // 6.3.1. Princip vzorkovacího osciloskopu 172 // 6.3.2. Hlavní parametry vzorkovacího osciloskopu 176 // 6.3.3. Systémy vzorkovacích osciloskopů 185 // 7. MĚŘENÍ PROUDU A VÝKONU PŘI VYŠŠÍCH KMITOČTECH (Ing. Eduard Klabačka, CSc.) 188 // 7.1. Měření proudu 188 // 7.2. Tepelné systémy 188 // 7.3. Metoda fotometrická 191 // 7.4. Bolometry a termistory 193 // 7.5. Termoelektrické měniče 198 // 7.6. Vysokofrekvenční elektrodynamické systémy 203 // 7.7. Měřicí obvody s usměrňovači 204 // 7.8. Vliv kapacity systému proti zemi a stínění 205 // 7.9. Bočníky a proudové transformátory 206 // 7.10. Metody měření výkonu 209 // 7.11. Měření výkonu při nižších kmitočtech 210 // 7.12. Měření velkých vysokofrekvenčních výkonů 213 // 7.13. Měření výkonu při velmi vysokých kmitočtech 215 // 8. MĚŘENÍ NAPĚTÍ (Doc. Ing. Michal Horevaj, CSc.) 218 // 8.1. Měření stejnosměrných napětí 218 // 8.1.1. Základní metody a přístroje pro měření stejnosměrného napětí 222 // 8.1.2. Měření napětí v rozsahu 0,1 až 1000 V 226 // 8.1.3. Měření napětí v mikrovoltovém rozsahu 239 // 8.2. Problematika elektrometrických měření 245 // 8.2.1. Součásti elektrometrických obvodů 245 // 8.2.2. Vstupní obvody elektrometrů 249 // 8.2.3. Měření parametrů vstupního obvodu 249 // 8.3. Měření střídavých napětí 251 // 8.3.1. Diodové voltmetry a měřicí detektory 252 // 8.3.2. Diferenciální metoda 255 // 8.3.3. Kompenzační metoda 256 // 8.3.4. Analýza chyb měřicích detektorů 259 //

8.3.5. Měřicí detektory v koaxiálních obvodech 263 // 8.3.6. Měření impulsových napětí 264 // 8.3.7. Heterodynní metoda 267 // 9. MĚŘENÍ VLASTNOSTÍ PASÍVNÍCH OBVODOVÝCH DVOJPÓLŮ (Doc. Ing. Miroslav Moravec, CSc.) 269 // 9.1. MĚŘENÁ VELIČINA A DVOJPÓL 269 // 9.2. Celkové uspořádání měřicích metod 273 // 9.3. Měřicí obvody pro měření imitancí pasivních dvojpólů 275 // 9.3.1. Rezonanční měřicí obvody 275 // 9.3.2. Nulové nebo můstkové měřicí obvody 297 // 9.3.3. Měřicí obvody s rozloženými parametry 301 // 10. MĚŘICÍ METODY AKTIVNÍCH POLOVODIČOVÝCH // PRVKŮ (Doc. Ing. Miroslav Moravec, CSc.) 306 // 10.1. Všeobecné požadavky na měřicí metody 306 // 10.2. Měřicí metody parametrů polovodičových diod 307 // 7 10.2.1. Měření dynamického odporu diod 307 // 10.2.2. Měření odporu tunelových diod 308 // 10.2.3. Měření mezielektrodové kapacity diod 310 // 10.3. Měřicí metody parametrů tranzistorů 313 // 10.3.1. Měření kolektorové kapacity tranzistoru 313 // 10.3.2. Měření odporu báze tranzistoru 315 // 10.3.3. Měření časové konstanty (rb’beb’c) tranzistoru 315 // 10.3.4. Měření mezního kmitočtu tranzistoru 316 // 10.3.5. Měření čtyřpólových parametrů tranzistorů při nízkém kmitočtu 319 // 10.3.6. Měření čtyřpólových parametrů tranzistorů při vysokém kmitočtu 328 // 10.4. Měření vysokofrekvenčního šumu diod a tranzistorů 331 // 10.4.1. Zdroje šumu a šumové číslo 331 // 10.4.2. Měření šumového čísla šumovým generátorem 332 // 10.5. Měření dynamických spínacích vlastností polovodičových součástek 334 // 11. MĚŘENÍ KMITOČTU A DÉLKY VLNY (Doc. Ing. Michal // Horevaj, CSc.) 335 // 11.1. Číslicové metody měření kmitočtu 336 // 11.2. Můstkové metody měření kmitočtu 340 //

11.3. Analogové metody měření kmitočtu 341 // 11.4. Osciloskopické metody měření kmitočtu 342 // 11.5. Interferenční měření kmitočtu 347 // 11.6. Rezonanční metody měření kmitočtu 350 // 12. MĚŘENÍ FÁZOVÉHO POSUNU (Ing. Edvard Klabačka, CSc.) 359 // 12.1. Úvod 359 // 12.2. Vyhodnocení z Lissajousova obrazce 360 // 12.3. Chyby při vyhodnocení z Lissajousova obrazce 365 // 12.4. Metoda vektorového součtu 366 // 12.5. Metody založené na přetvařování 367 // 12.6. Číslicové měření fázového posunu 370 // 12.7. Kompenzační metoda 371 // 12.8. Metody používající přeměny kmitočtu 371 // 13. MĚŘENÍ ZKRESLENÍ A ANALYZÁTORY KMITOČTU (Prof. Ing. Josef Eichler, CSc.) 374 // 13.1. Druhy zkreslení 374 // 13.2. Měření činitele zkreslení к 375 // 13.3. Analyzátory kmitočtu 380 // 13.3.1. Analyzátor se selektivní zpětnou vazbou 381 // 13.3.2. Analyzátor heterodynní 381 // 13.3.3. Analyzátor panoramatický 382 // 14. MĚŘENÍ INTENZITY STŘÍDAVÝCH ELEKTROMAGNETICKÝCH POLÍ (Doc. Ing. Miroslav Moravec. CSc.) 384 // 14.1. Užívané antény 384 // 14.2. Užívané měřicí metody 389 // 15. MĚŘENÍ MODULACE (Doc. Ing. Michal Horevaj, CSc.) 392 // 15.1. Amplitudová modulace 392 // 15.1.1. Měření hloubky modulace osciloskopem 392 // 8 15.1.2. Metody využívající detekce 396 // 15.2. Kmitočtová modulace 396 // 16. MĚŘENÍ NA NÍZKOFREKVENČNÍCH ZESILOVAČÍCH (Prof. Ing. Josef Eichler, CSc.) 400 // 16.1. Měření útlumové, fázové a zpětnovazební charakteristiky 401 // 16.2. Zkoušení nízkofrekvenčních zesilovačů obdélníkovým napětím 408 // 16.3. Ostatní měření na zesilovačích a přenosových cestách 410 // 17. ČÍSLICOVÁ MĚŘICÍ TECHNIKA (Doc. Ing. Miroslav Moravec, CSc.) 413 // 17.1. Počítání s dvojkovými čísly a dvojkové kódy 413 //

17.2. Booleova algebra a skladba logických obvodů 417 // 17.3. Převodníky 425 // 17.3.1. Charakteristické vlastnosti převodníků 425 // 17.3.2. Převodníky analogově číslicové 428 // 17.3.3. Převodník číslicově analogový 442 // 17.3.4. Některé důležité díly převodníků 443 // 17.4. Měření některých základních veličin číslicovými přístroji 447 // 17.5 Měřicí ústředny 448 // 18. CEJCHOVÁNÍ A NORMÁLY (Doc. Ing. Michal Horevaj, CSc.) 450 // 18.1. Normály základních elektrických veličin 450 // 18.2. Normály kmitočtu a času 453 // 18.2.1. Atomové a molekulární normály kmitočtu 453 // 18.2.2. Přenos normálových kmitočtů 458 // 18.3. Normály stejnosměrného napětí 459 // 18.3.1. Normální Westonovy články 459 // 18.3.2. Etalon napětí využívající Josephsonova jevu 462 // 18.4. Vysokofrekvenční normály 464 // 18.4.1. Koaxiální vedení 466 // 18.4.2. Vysokofrekvenční odpory v koaxiálních obvodech 470 // 18.4.3. Podmínky přenosu normálové veličiny 473

(OCoLC)42128547

cnb000460877