Úplné zobrazení záznamu

Toto je statický export z katalogu ze dne 28.05.2026. Zobrazit aktuální podobu v katalogu.

Bibliografická citace

.
0 (hodnocen0 x )
(1) Půjčeno:1x 
BK
Praha : Univerzita Karlova, 1982
270 s.

000033428
Řád fyzikálního praktika str. 7 // A. Úlohy pro seminář z teorie fyzikálních měření // 1. Měření modulu pružnosti ve smyku a momentu setrvačnosti metodou torzních kmitů 8 // 2. Měření odporu přímou metodou a určení charakteristiky polovodičové diody 11 // B. Úlohy pro praktikum I // 1. Měření hustoty 15 // 2. Studium harmonických kmitů mechanického oscilátoru 18 // 3. Měření momentu setrvačnosti kola 22 // 4. Otáčení tuhého tělesa 23 // 5. Měření modulu pružnosti v tahu 25 // 6. Dynamická zkouška deformace látek v tlaku 27 // 7. Studium proudění viskosní kapaliny trubicemi kruhového průřezu 33 // 8. Určení závislosti povrchového napětí na koncentraci povrchově aktivní látky 35 // 9. Měření viskosity 37 // 10. Pád koule ve viskosní kapalině 39 // 11. Studium teplotní rozpínavosti plynu 42 // 12. Měření měrného tepla 45 // 13. Brownův pohyb 48 // 14. Měření tíhového zrychlení 51 // 15. Studium Teologického chování látek 54 // C. Úlohy pro praktikum II // 1. Měření základních parametrů galvanometru 57 // 2. Cejchování měřících přístrojů 61 // 3. Měření odporů metodou přímou a substituční 65 // 4. Charakteristiky diod 67 // 5. Měření indukčnosti a kapacity metodou přímou 73 // 6. Studium sériového zapojení RLG (měření účiníku) 77 // 7. Měření s torsním magnetometrem 80 // 6. Studium zesilovače s triodou 83 // 9. Charakteristiky transistoru 87 // 10. Studium doutnavky 94 // 11. Měření malých odporů 99 // 12. Kalibrace odporového teploměru // 13. Charakteristika termistoru // 14. Měření intensity magnetického pole balistickým galvanometrem // 15. Měření napětí osciloskopem // D. Úlohy pro praktikum III // 1. Měření parametrů zobrazovacích soustav // 2. Studium mikroskopu // 3. Studium mřížkového spektrometru //
4. Měření indexu lomu Praunhoferovou metodou // 5. Měření indexu lomu refraktometry // 6. Měření vlnových délek světla interferometry // 7. Studium ohybových jevů s použitím laseru // 8. Práce s polarizačním mikroskopem // 9. Měření stočení polarizační roviny polarimetry // 10. Měření náboje elektronu Millikanovou metodou // 11. Studium fotoelektrického jevu. Určení Planckovy konstanty // 12. Měření resonančního a ionisačního potenciálu rtuti // (Franckův - Hertzův pokus) // 13. Studium Geigerova - Mullerova počítače // 14. Studium scintilačního počítače // 15. Studium průchodu elektronů hmotným prostředím // E. Úlohy pro praktikum z elektroniky // 1. Vlastnosti a použiti usměrňovače napětí // 2. Vlastnosti a použití jednoduchého stabilizátoru napětí se Zenerovou diodou // 3. Vlastnosti e použiti tyristoru // 4. Základní vlastnosti transistoru a jeho použiti v jednoduchém zesilovači // 5. Vlastnosti a použití unipolárního transistoru // 6. Základní vlastnosti klopných obvodů // 7. Studium jednoduchého a můstkového transistorového stupně // 8. Studium třístupňového zesilovače // 9. Studium rozdílového zesilovače // 10. Studium a použití operačních zesilovačů // 11. Sériový stabilisátor napětí // 12. Studium diskrétních spínacích prvků // 13. Studium hradel NAND a astabilních obvodů // 14. Studium kombinačních obvodů // 15. Studium bistabilních klopných obvodů
(OCoLC)39562299
cnb000000179

Zvolte formát: Standardní formát Katalogizační záznam Zkrácený záznam S textovými návěštími S kódy polí MARC