Úplné zobrazení záznamu

Toto je statický export z katalogu ze dne 20.02.2021. Zobrazit aktuální podobu v katalogu.

Bibliografická citace

.
0 (hodnocen0 x )
(4) Půjčeno:4x 
BK
1. vyd.
Praha : Academia, 1985
235 s. : il. ; 25 cm

objednat
Obsahuje bibliografie a rejstřík
Celostátní vysokoškolská příručka pro vysoké školy technické, studijní obor jaderné inženýrství
000113292
Rekat.
Obsah // Předmluva ...-... 9 // I. Význam difrakčních metod...-... 11 // 1.1. Možnosti aplikace difrakční analýzy v přírodních vědách a v technické praxi... 11 // 1.2. Objev difrakce rentgenového záření... 13 // 1.3. Československý příspěvek v oblasti využití difrakce záření na krystalech... 14 // II. Geometrická krystalografie... 16 // 2.1. Amorfní, nie/omoilní a krystalický stav látky // 2.2. Makroskopická souměrnost krystalů... // 2.3. Bodové grupy a krystalové soustavy... 21 // 2.4. Stereografická projekce bodových grup... 25 // 2.5. Prostorové Bravaisovy mřížky... 27 // 2.6. Značení uzlových bodů, přímek a rovin... 31 // 2.7. Pojem reciproké mřížky... 33 // 2.8. Souměrnost krystalových struktur... 35 // 2.8.1. Mikroskopické prvky souměrnosti... 35 // 2.8.2. Prostorové grupy... 36 // 2.8.3. Příklady jednoduchých struktur ... 37 // III. Základní pojmy z chemie a fyziky krystalů... 40 // 3.1. Klasifikace struktur podle druhu vazby. Atomové a iontové poloměry... 40 // 3.2. Tuhé roztoky... 41 // 3.3. Izomorfie a polymorfie___¦$_... 43 // IV. Základy teorie difrakce... 45 // 4.1. Amplituda rozptylu... 46 // 4.2. Funkce elektronové hustoty... 48 // 4.3. Atomová amplituda rozptylu... 50 // 4.4. Vliv tepelného pohybu atomů na funkci elektronové hustoty... 53 // 4.5. Difrakce na krystalové mřížce... 54 // 4.6. Amplituda rozptylu konečného krystalu. Nízkoúhlový rozptyl... 58 // 4.7. Ewaldova geometrická
interpretace Braggova zákona... 59 // 4.8. Strukturní amplituda... 61 // 4.9. Vliv rozmístění atomů na difrakční obraz... 63 // 4.10. Teplotní difúzni rozptyl... 65 // 4.11. Princip metod strukturní analýzy... 65 // 4.12. Integrální intenzita reflexe podle kinematické a dynamické teorie rozptylu... 67 // 4.13. Rozptyl na nekrystalických látkách... 70 // 5 // oc O’ // V. Rentgenová difrakční analýza... 73 // 5.1. Rentgenové záření... 73 // 5.1.1. Vznik rentgenového záření, vlastnosti spojitého a charakteristického spektra... 73 // 5.1.2. Zdroje rentgenového záření... 80 // 5.1.3. Interakce rentgenového záření s hmotou... 83 // 5.1.4. Možnosti využití absorpce rentgenového záření... 89 // 5.1.5. Monochromatizace rentgenového záření... 104 // 5.1.6. Princip primární a sekundární rentgenové analýzy... 106 // 5.1.7. Fyziologické účinky rentgenového záření... 107 // 5.2. Metody studia monokrystalů... 110 // 5.2.1. Klasifikace experimentálních metod difrakčního výzkumu struktury... 110 // 5.2.2. Plošná detekce difraktovaného záření na stacionárním filmu... 110 // 5.2.3. Plošná detekce difraktovaného záření na pohyblivém filmu... 116 // 5.2.4. Difraktometry pro studium monokrystalů... 118 // 5.2.5. Metoda divergentního svazku... 120 // 5.3. Metody studia práškových a polykrystalických látek... 122 // 5.3.1. Geometrická konstrukce difrakčního obrazu při Debyeově-Scherrerově metodě___122
// 5.3.2. Debyeova-Scherrerova metoda v uspořádání s tyčinkovým vzorkem a válcovým filmem 123 // 5.3.3. Uspořádání Debyeovy-Scherrerovy metody na průchpd a na zpětný odraz... 126 // 5.3.4. Fokusační uspořádání Debyeovy-Scherrerovy metody... 127 // 5.3.5. Fokusační komory s monochromátorem... 130 // 5.3.6. Semifokusační uspořádání Debyeovy-Scherrerovy metody... 131 // 5.3.7. Difraktometry... 132 // 5.3.8. Gandolfiho komora... 137 // 5.3.9. Maloúhlové komory a difraktometry... 138 // 5.3.10. Rentgenografický difrakční výzkum za vysokých a nízkých teplot, při velkých tlacích // a v podmínkách „horkých“ laboratoří... 140 // 5.4. Výpočet a experimentální určení hlavních charakteristik difrakčních linií rentgenogramů // polykrystalických látek... 143 // 5.4.1. Faktory ovlivňující intenzitu difrakčních linií... 143 // 5.4.2. Měření integrální intenzity difrakčních linií... 146 // 5.4.3. Aproximace skutečných profilů difrakčních linií analytickými funkcemi... 149 // 5.4.4. Měření polohy difrakčních linií...152 // 5.4.5. Výpočet Debyeova spektra, indexování difrakčních linií... 158 // 5.4.6. Pojem hloubky vnikání rentgenového záření... 162 // 5.5. Příklady aplikací difrakčních metod... 165 // 5.5.1. Přesné měření mřížkových parametrů polykrystalických látek... 165 // 5.5.2. Určení hustoty, typu tuhých roztoků, identifikace hyperstruktury... 169 // 5.5.3. Určení
fázových rozhraní na fázových diagramech... 171 // 5.5.4. Měření tloušťky tenkých vrstev... 172 // 5.5.5. Rentgenová dilatometrie... 174 // 5.5.6. Kvalitativní difrakční fázová analýza... 176 // 5.5.7. Kvantitativní difrakční fázová analýza... 178 // 5.5.8. Rentgenová tenzometrie... 185 // 5.5.9. Měření velikosti mikroskopických napětí a rozměrů oblastí koherentního rozptylu // menších než 10"3 mm pomocí aproximační metody... 194 // 5.5.10. Měření velikosti krystalků větších než 10"3 mm...198 // 5.5.11. Stanovení rozměrů krystalků s využitím extinkčního efektu...202 // 5.5.12. Princip rentgenografického studia textur...203 // 5.5.13. Příklady aplikací monokrystalových metod...209 // 6 // VI. Elektronová a neutronová difrakční analýza ... 217 // 6.1. Elektronová difraktografie...217 // 6.1.1. Základní rysy elektronové difrakční analýzy...217 // 6.1.2. Geometrická konstrukce elektronogramů...219 // 6.2. Neutronová difraktografie... 221 // 6.2.1. Zdroje neutronů, jejich monochromatizace a detekce, metodika difrakčního experimentu ...221 // 6.2.2. Absorpční a rozptylové vlastnosti tepelných neutronů...224 // 6.2.3. Příklady aplikací neutronové difrakční analýzy...226 // Seznam literatury... 229 // Rejstřík _ ...232 // 7
(OCoLC)39589818
cnb000029293

Zvolte formát: Standardní formát Katalogizační záznam Zkrácený záznam S textovými návěštími S kódy polí MARC