Úplné zobrazení záznamu

Toto je statický export z katalogu ze dne 04.06.2026. Zobrazit aktuální podobu v katalogu.

Bibliografická citace

.
0 (hodnocen0 x )
EB
ONLINE
New York : Springer Science+Business Media, LLC, 1998
1 online resource (275 pages) : illustrations
Externí odkaz    Plný text PDF 
   * Návod pro vzdálený přístup 


ISBN 9781489901484 (e-book)
ISBN 9781489901507
Print version: Suryanarayana, C. X-Ray diffraction : a practical approach. New York : Springer Science+Business Media, LLC, c1998 xiii, 273 pages ISBN 9781489901507
Includes bibliographical references and index
001807114
full
(Au-PeEL)EBL3086226
(CaPaEBR)ebr10941796
(MiAaPQ)EBC3086226
(OCoLC)934976156

Zvolte formát: Standardní formát Katalogizační záznam Zkrácený záznam S textovými návěštími S kódy polí MARC