.

0 (hodnocen0 x )

BK

Příručka

1. vyd.

Praha : SNTL - Nakladatelství technické literatury, 1977

347 s. : il.

000059565

/ Seznam použitých značek a symbolů // 1. Integrovaný obvod jako měřený objekt (Ing. Tomáš Gucký) 21 // Základní pojmy // Obor měřených veličin // Poíadavky na způsob měření a zpracování výsledků měření // Měření při vývoji integrovaného obvodu // Měření ve výrobě integrovaných obvodů // Měření testovacích obrazců // Měření čipů na deskách // Měření obvodů po zapouzdření // Měření v průběhu aplikace integrovaných obvodů // Vstupní kontrola integrovaných obvodů // Kontrola zapojených integrovaných obvodů // Požadavky na měřicí zařízení pro integrované obvody 32 // II. Měření operačních zesilovačů (Ing. Jaroslav Trhlík) 33 // 6. Základní vlastnosti operačního zesilovače 33 // 5.1. Parametry otevřené zpětnovazební smyčky 35 // 5.2. Vstupní chybové parametry 35 // 5.3. Parametry souhlasného signálu 36 // 5.4. Nelineární a dynamické parametry 36 // 6. Měření parametrů otevřené smyčky 39 // 6.1. Napěťové zesílení rozdílového signálu 39 // 6.2. Omezujjcí činitele při měření napěťového zesílení Au 49 // 6.3. Výstupní odpor Ro 51 // 6.4. Rozdílový vstupní odpor R\\x> 52 // 6.5. Maximální rozdílové vstupní napětí f rmmax 54 // 6.6. Tranzitní kmitočet/т 55 // 7. Měření vstupních chybových parametrů // Napěťová nesouměrnost vstupů Г’ю // Drift napěťové nesouměrnosti vstupů ctuio // Vstupní klidový proud Jjb , proudová nesouměrnost vstupů Ii // Drift proudové nesouměrnosti vstupů alio a drift vstupního proudu // Šumové vlastnosti operačního zesilovače // Praskavý šum („popcorn“) // 8. Měření parametrů výstupní odezvy // 58.1. Jmenovité výstupní napětí ř7op » jmenovitý výstupní proud 74 // 8.2. Rychlost přeběhu iSi?, mezní kmitočet pro jmenovitý výkon/p 75 //

8.3. Doba ustálení tTlV)4 doba uklidnění ítot 77 // 8.4. Přechodová odezva při malém signálu 80 // 9. Měření parametrů, souhlasného signálu 81 // 9.1. Činitel potlačení souhlasného signálu CMR 81 // 9.2. Maximální souhlasné vstupní napětí t/icMmax 85 // 9.3. Souhlasný vstupní odpor 7?icm 86 // 9.4. Činitel potlačení změn napájecího napětí SVR 87 // III. Měření obvodů pro nízkofrekvenční zesilovače (Ing. Pavel // Všetula) 89 // 10. Typické vlastnosti nízkofrekvenčních integrovaných zesilovačů 89 // 11. Mčření statických parametrů nízkofrekvenčních obvodů 93 // 12. MČření parametrů obvodových elementů jednoduchých zesilovačů 94 // 13. Nízkofrekvenční zesilovač z hlediska přenosu signálu 95 // 14. Nastavení pracovního bodu měřeného obvodu 95 // 15. Vstupní a výstupní impedance Zj, Z o 99 // 16. Přenosové a výstupní parametry zesilovače 101 // 17. Měření přenosových charakteristik nízkofrekvenčních zesilovačů 104 // 17.1. Kmitočtová charakteristika Лм(/) 104 // 17.2. Závislosti zkreslení Kh na výstupním výkonu a kmitočtu 105 // 17.3. Závislost výstupního napětí Uo nebo výkonu Pq na vstupním napětí // zesilovače 107 // 18. Měření parametrů nízkofrekvenčních zesilovačů ve vztahu к napájení // a teplotě 107 // 18.1. Účinnost t] a ztrátový výkon Pd 108 // 19. Mčření vlivu rušivých signálů 109 // 19.1. Šumové číslo P 110 // 19.2. Potlačení zvlnění napájecího napětí íS’PP a separace kanálů aSC7 110 // 20. Realizace pracoviště pro laboratorní mčření nízkofrekvenčních zesilovačů 112 // 21. Vlastnosti obvodů pro dekódování nčkolikakanálového přenosu zvuku . 115 // IV. Měření integrovaných obvodů pro vysokofrekvenční aplikace (Ing. František Striček) 116 //

22. Parametry vysokofrekvenčních širokopásmových zesilovačů 116 // 23. Měření statických parametrů rozdílových vysokofrekvenčních zesilovačů 118 // 24. Měření dynamických parametrů rozdílových vysokofrekvenčních zesilovačů 119 // 24.1. Měření výkonového zesílení Aprili -dpkas 120 // 24.2. Měření šumu 124 // 24.3. Měření rozsahu řízení zesílení AGC 127 // 24.4. Měření parametrů у . 129 // 625. Parametry vysokofrekvenčních obvodů pro rozhlasové a televizní přijímače 120 // 26. Měření vysokofrekvenčních integrovaných obvodů zpracovávajících // signál FM 131 // 26.1. Měření vstupního napětí pro omezení t7iom a výstupního nízkofrekvenčního napětí ZJonf 133 // 26.2. Měření potlačení amplitudové modulace AMR 133 // 27. Maření vysokofrekvenčních integrovaných obvodů zpracovávajících // signál AM 134 // 27.1. Měření vstupní citlivosti omezené šumem 135 // 27.2. Měření největší použitelné úrovně vstupního signálu 137 // 27.3. Měření rozsahu AVC 137 // 28. Maření vysokofrekvenčních integrovaných obvodů zpracovávajících obrazové modulovaný signál 138 // 28.1. Měření citlivosti omezené zesílením 140 // 28.2. Měření maximálního vstupního napětí 140 // 29. Základní požadavky na měřicí přípravky pro vysokofrekvenční obvody 140 // 30. Maření dalších vysokofrekvenčních integrovaných obvodů 141 // 30.1. Měření parametrů obvodů s automatickou fázovou synchronizací . 142 // 30.2. Integrované obvody pro televizní přijímač zpracovávající barvonosný signál 144 // V. Měření jednoúčelových analogových obvodů (Ing. Tomáš Gucký) 146 //

31. Vlastnosti obvodů pro stejnosměrné stabilizátory a regulátory 146 // 31.1. Parametrické stabilizátory napětí 147 // 31.2. Zpětnovazební stabilizátory napětí (proudu) 147 // 31.3. Speciální regulátory stejnosměrného napětí (proudu) 151 // 32. MČření zpětnovazebních stabilizátorů a regulátorů napětí 151 // 32.1. Parametry popisující kvalitu stabilizace 152 // 32.2. Parametry určující provozní podmínky stabilizátoru 156 // 32.3. Další vlastnosti obvodů pro stabilizátory 156 // 33. Obvody pro řízení tyristorů a triaků 160 // 33.1. Integrovaný obvod MAA 436 pro fázové řízení 162 // 33.2. Integrované obvody pro řízení tyristorů a triaků při průchodu napětí // nulou 166 // 34. Komparátory, čtecí zesilovače, přijímače pro přenos logických signálů . 169 // 35. Základní vlastnosti integrovaných komparátorů a jejich měření 170 // 36. Základní vlastnosti ětecích zesilovačů 177 // 37. Základní vlastnosti přijímacích zesilovačů pro přenos logických signálů // {interface) 181 // 38. Základní vlastnosti budičů pro přenos logických signálů 183 // 39. Základní vlastnosti obvodů pro bezkontaktní tlačítka 185 // VI. Měření číslicových integrovaných obvodů s bipolárními // tranzistory (Ing. Tomáš Gucký, Ing. Karel Hyánek, Ing. Zdeněk Cholasta) 137 // 740. Charakteristické vlastnosti základních řad číslicových integrovaných // obvodu 187 // 41. Vliv stupne integrace na způsoby měření 188 // 42. Definice statických parametru 191 // 42.1. Vstupní parametry 191 // 42.2 Výstupní parametry 193 // 42.3. Parametry napájení obvodu 196 // 42.4. Parametry speciálních vývodů 196 // 42.5. Parametry vztahující se ke vstupu i к výstupu 197 // 42.6. Způsob udávání statických parametrů 198 //

43. Podmínky pro měření statických parametrů 198 // 44. Rozbor činnosti obvodu ve vztahu к podmínkám měření 202 // 45. Realizace pracoviště pro měření statických parametrů 205 // 45.1. Vybavení laboratorního pracoviště 206 // 45.2. Postup při laboratorním měření statických parametrů 207 // 45.3. Požadavky na prvky zapojení laboratorního pracoviště 208 // 45.4. Využití snímače charakteristik pro měření statických parametrů . 209 // 46. Podmínky pro měření dynamických parametrů číslicových integrovaných // obvodů 210 // 46.1. Parametry vstupního signálu 211 // 46.2. Podmínky zátěže na výstupu měřeného obvodu 212 // 46.3. Napájecí podmínky 213 // 46.4. Měřicí body 214 // 46.5. Napěťové úrovně, teplota okolí 214 // 47. Měření spínacích dob a zpoždění signálu 214 // 48. Měření maximálního kmitočtu 218 // 49. Měření předstihu a přesahu 218 // 50. Měřicí přípravek pro dynamické parametry 220 // 51. Použití osciloskopu pro měření dynamických parametrů 226 // 52. Metody vhodné pro automatizaci měření dynamických parametrů 229 // 52.1. Čítací metoda 230 // 52.2. Vzorkovací metoda s převodem čas —číslo 231 // 52.3. Integrační metoda 232 // 53. Testování logické funkce — účel a oblast použití 234 // 54. Poruchy v logických obvodech 235 // 55. Metody testování logické funkce 238 // 55.1. Funkční test srovnáním 238 // 55.2. Diagnostický detekční test 242 // 55.3. Dynamické testování logické funkce 243 // 56. Diskuse podmínek testu logické funkce 244 // VII. Měření unipolárních číslicových integrovaných obvodů // (Ing. Jan Hoherčák) 247 // 57. Typické vlastnosti unipolárních ěíslicových obvodů 247 // 58. Měření sériových posuvných registrů MIS 249 // 858.1. Vstupní proud/j 253 //

58.2. Mezní hodnota vstupního napětí 254 // 58.3. Výstupní napětí Uql, Uoh 254 // 58.4. Odběr z napájecích zdrojů 255 // 58.5. Měření dynamických parametrů 255 // 58.6. Měření kapacity vstupů 256 // 58.7. Testování logické funkce 256 // 59. Měření paměti MIS typu ROM 258 // 59.1. Měření parametrů vstupů paměti 261 // 59.2. Měření výstupních napětí C/qh, Uoi, 261 // 59.3. Měření svodových proudů výstupů Zlo 262 // 59.4. Měření odběrů z napájecích zdrojů 263 // 59.5. Měření dynamických parametrů 263 // 59.6. Testování logické funkce 264 // 60. Měření pamětí MIS typu RAM 264 // 60.1. Statické parametry vstupů 271 // 60.2. Měření výstupních proudů 271 // 60.3. Odběr z napájecích zdrojů 272 // 60.4. Měření dynamických parametrů 273 // 60.5. Měření kapacity vstupů 274 // 60.6. Obecná pravidla testování logické funkce RAM 275 // 60.7. Testovací algoritmy 275 // Test „samé nuly“, „samé jedničky“ 276 // Test „šachovnice“ 276 // Testy s lineárním uspořádáním nul a jedniček 276 // Test paritou 277 // Test postupující jedničkou nebo nulou 277 // Test „ping-pong“ 278 // Test „Galpat“ 278 // 60.8. Podmínky testu logické funkce RAM 282 // 61. Filozofie testování 283 // 61.1. Volba testu 283 // 61.2. Generování testů 284 // 61.3. Strategie testování 285 // 61.4. Návrh obvodů z hlediska jejich jednoduššího testování 286 // 61.5. Zpracování výsledků testů 287 // 62. Číslicové subsystémy velké integrace 291 // VIII. Měřicí zařízení pro integrované obvody (Ing. Tomáš Gucký) 295 // 63. Obecné vlastnosti měřicích zařízení pro integrované obvody 295 // 64. Jednoúčelová zařízení pro analogové obvody 299 // 65. Univerzální měřicí zařízení pro analogové obvody 302 //

66. Jednoúčelová zařízení pro číslicové integrované obvody 306 // 67. Logické sondy a komparátory 310 // 68. Ruční měřiče statických parametrů a analyzátory funkce číslicových integrovaných obvodů 313 // 69. Automatické měřiče statických parametrů číslicových integrovaných obvodů 316 // 970. MéHce dynamických’parametru číslicových obvodu 318 // 71. Automatické analyzátory a testery logické funkce 323 // 72. Testovací a měřicí systémy řízené počítačem 32Í) // 72.1. Technické vybavení systémů 330 // 72.2. Programové vybavení systémů (software) 337 // Literatura 340 // Rejstřík 345

(OCoLC)42156553

cnb000412784