Úplné zobrazení záznamu

Toto je statický export z katalogu ze dne 04.11.2023. Zobrazit aktuální podobu v katalogu.

Bibliografická citace

.
0 (hodnocen0 x )
EB
ONLINE
1st ed.
Aalborg : River Publishers, 2019
1 online resource (278 pages)
Externí odkaz    Plný text PDF 
   * Návod pro vzdálený přístup 


ISBN 9788770221115 (electronic bk.)
Print version: Rumiantsev, Andrej On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the Mm-Wave Range and Beyond Aalborg : River Publishers,c2019
The demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measurement at mm-wave and sub-mm wave frequencies plays a crucial role in the modern IC design debug.  This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies..
001906081
express
(Au-PeEL)EBL30251765
(MiAaPQ)EBC30251765

Zvolte formát: Standardní formát Katalogizační záznam Zkrácený záznam S textovými návěštími S kódy polí MARC